盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀的八個(gè)功能

　　盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀的八個(gè)功能

　　光學(xué)膜厚測量儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大。

　　光學(xué)膜厚測量儀具有高性價(jià)比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量、測量時(shí)間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本。可以進(jìn)行材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析。可直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等有的時(shí)候我們會(huì)發(fā)現(xiàn)鍍層膜厚儀測量的數(shù)據(jù)不是很。遇到這個(gè)問題的時(shí)候就要先搞清楚究竟是什么原因造成設(shè)備不能夠正常使用，然后想辦法把這個(gè)問題給排除掉就可以了。

　　光學(xué)膜厚測量儀功能：

　　1、自動(dòng)對焦功能。電鍍膜厚儀配備激光自動(dòng)對焦功能，能夠?qū)梗岣邷y量效率。

　　2、電鍍膜厚儀具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測量。

　　3、采用檢量線法和FP法，兩個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換，采用激光自動(dòng)對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時(shí)造成的損壞。

　　4、選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

　　5、電鍍膜厚儀支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語。

　　6、搭載樣品尺寸的兼容性可適用于各種樣品，能夠通過一臺(tái)儀器測量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品(機(jī)械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等。

　　7、多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正。

　　8、即時(shí)生成測量報(bào)告的便捷性。