光學膜厚測量儀在測量的時候不會損傷

　　光學膜厚測量儀能夠避免前期的樣品處理，甚至是不需要樣品來進行試樣工作。傳統的測厚儀，在測量物件時，需要進行樣品的處理，使樣品與被測量物件一致，在測量時直接應用于樣品測量。而儀器的使用是直接應用于被測量物體。這樣的一個過程便為我們節省了不少的工作以及資源。利用光學膜厚測量儀，它可以避免了被測量物件的損壞。之所以普通傳統的測厚儀需要用到樣品來進行試測，就是因為在測量時，會對物體造成一定程度的表面損壞，為了避免物件的損壞，才會需要應用樣品。而光學膜厚測量儀，雖然直接應用于物件表面，但其它放射出來的光卻是一樣沒有實質的事物，在測量的時候并不會對物件造成什么樣的損傷。

　　光學膜厚測量儀特性：

　　a.測量膜厚和折射率，膜厚重復精度達１納米，折射率重復精度達0.01；

　　b.有配氣浮平臺便于移動大片玻璃；

　　c.質量控制,生產過程控制；

　　d.用于檢測太陽能AR減反膜玻璃生產線中整片玻璃的在線檢測或離線抽檢。

　　2.光學膜厚測量儀AR2 -ONLINE配套軟件特性：

　　a.菜單管理；

　　b.實時在線或離線抽檢監控和歷史數據界面；

　　c.輸出至SQL服務器；小型內置式SQL；

　　d.光學膜厚測量儀可根據客戶要求定制界面。

　　光學膜厚測量儀的使用并不僅僅有著以上這些優點，它的優點還是在于它的jīng確度比普通的測厚儀高。既使是很微小的物件，也可以利用這樣的一種儀器來測量它的厚度，而且還不用擔心物件會因此而受到破壞。于是，光學膜厚測量儀也就成了人們眼中的香勃勃。